相控陣檢測技術(shù)(PAUT)

　　相控陣超聲檢測，是根據設定的延遲法則激發(fā)相控陣陣列探頭各獨立壓電晶片(陣元)，合成聲束并實(shí)現聲束的移動(dòng)、偏轉和聚焦等功能，再按一定的延遲法則對接收到的超聲信號進(jìn)行處理并以圖像的方式顯示被檢對象內部狀態(tài)的超聲檢測方法。相控陣探頭由一系列獨立晶片組成，每一個(gè)晶片都有自己的接頭、延時(shí)電路和數模轉換器，每個(gè)晶片在聲學(xué)上都是獨立的。通過(guò)預先計算好的延時(shí)對每個(gè)晶片進(jìn)行激發(fā)，以得到所需的波形。

　　聲束可控，可適用于復雜零件，顯示直觀(guān)，圖像可記錄保存，靈敏度高，檢測速度快，對人員勞動(dòng)強度相對低，可實(shí)現自動(dòng)或半自動(dòng)檢測。

　　適用于各領(lǐng)域的金屬、非金屬、復合材料，鍛件、鑄件、焊接件，板材、棒材、管材的檢測，檢測厚度范圍覆蓋大(從1mm到幾米)，可檢測工件表面缺陷和內部缺陷。